状態遷移技法によるテスト設計、Classification Tree Method によるテスト設計をご紹介いたします。実際にツール(ZIPC Tester、ZIPC FOT)を操作し、テスト仕様書作成の体験をしていただけます。

開催日時

3月17日(金)
13:30~17:00(受付開始:13:15)

会場

キャッツ株式会社 本社 セミナルーム
神奈川県横浜市港北区新横浜3-1-9 アリーナタワー3F

定員

10名

  • 定員を超えた場合「受付終了」とさせていただきます
対象
  • 属人的なテストから脱却を考えている方
  • テストケース数が膨大になるという課題を持たれている方
参加費

無料

主催

キャッツ株式会社

その他
「そのテスト仕様書でテストの観点など論理的に説明ができますか!?」
実際にツール(ZIPC Tester、ZIPC FOT)を操作し、テスト仕様書作成の体験をしていただけます。
  • 属人的なテストから脱却を考えている方
  • テストケース数が膨大になるという課題を持たれている方
  • テストの質をあげ、かつコスト削減を考えている方
  • デスマーチを改善したいと考えている方
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